客戶咨詢熱線：
18922517093
日本chino紅外水分測(cè)厚儀IM系列 IM系列是一種水分和測(cè)厚儀，可以利用測(cè)量對(duì)象的紅外吸收來測(cè)量水分、有機(jī)物含量、薄膜厚度、涂層厚度、顏色密度等。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1159
日本川鐵JFE超聲波測(cè)厚儀TI-65W 超聲波測(cè)厚儀，帶0.01mm顯示屏，具有出色的精度和便攜性。 為制造產(chǎn)品的質(zhì)量控制和質(zhì)量控制提供有效支持。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1414
日本and超聲波測(cè)厚儀 AD-3255 用于測(cè)量各種材料的厚度，例如金屬、玻璃、塑料、陶瓷和環(huán)氧樹脂。 ?一個(gè)單元覆蓋廣泛的測(cè)量范圍（0.8-300 mm） ?0.01mm顯示分辨率（0.01mm/0.1mm顯示可切換）
更新日期：2025-05-02 訪問量：1619
日本custom超聲波測(cè)厚儀STG-01U 可以測(cè)量從金屬到非金屬的各種物質(zhì)的厚度。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1585
日本showadenshi非接觸式玻璃測(cè)厚儀 紅外線穿過特定的物質(zhì)。 它是一種利用該特性以非接觸方式測(cè)量特定物質(zhì)厚度的技術(shù)。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1707
日本showadenshi非接觸式硅晶片測(cè)厚儀 我們以非接觸方式測(cè)量硅晶片、藍(lán)寶石、玻璃等的厚度和形狀。 我們提出并開發(fā)滿足客戶需求的測(cè)量儀器，例如光學(xué)干涉法和位移計(jì)法。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1676
日本yamabun電池隔膜測(cè)厚儀TOF-4R05 薄膜上形成的Cr、Ni、Cu的薄膜厚度分析
更新日期：2024-03-21 訪問量：1876
日本中央制作所電鍍厚度測(cè)量儀TH-11 它是一種破壞性測(cè)量儀器，可用于電鍍的質(zhì)量控制，并具有多種可測(cè)量的電鍍類型。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1633
CT-Gauge DX日本g-freude非接觸式中心壁厚檢測(cè)儀
日本g-freude非接觸式中心壁厚檢測(cè)儀CT-Gauge DX 自初的模型以來已經(jīng)過去了七年。在此期間，我們克服了許多問題， 對(duì)機(jī)械和軟件進(jìn)行了全面改進(jìn)，進(jìn)一步擴(kuò)展了功能。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1386
日本yamabun薄膜接觸式測(cè)厚儀TOF-4R05 由于是通過自動(dòng)運(yùn)輸測(cè)量，所以測(cè)量數(shù)據(jù)沒有個(gè)體差異。 也可用于調(diào)整雷達(dá)圖上的充氣膜。 由于測(cè)量是通過夾入法進(jìn)行的，因此即使是有纏繞習(xí)慣等的厚片也可以測(cè)量。
更新日期：2024-03-21 訪問量：1587
日本densoku鍍層測(cè)厚儀GCT-311 改進(jìn)的可操作性和增強(qiáng)的功能 通過使用個(gè)人計(jì)算機(jī)，提高了可操作性并增強(qiáng)了功能。 易于數(shù)據(jù)處理 使用Windows規(guī)范可以輕松完成數(shù)據(jù)處理。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1610
日本富士fujiwork在線式薄膜測(cè)厚儀FT-A200
日本富士fujiwork在線式薄膜測(cè)厚儀FT-A200 FT-A200測(cè)量范圍/ 10μm至200μm * 2 FT-A200R測(cè)量范圍/ 3μm至100μm * 2
更新日期：2025-05-02 訪問量：1545
日本富士fujiwork薄膜連續(xù)測(cè)厚儀FT-A200
日本富士fujiwork薄膜連續(xù)測(cè)厚儀FT-A200 1線性度是顯示是否可以與測(cè)量頭的位移量成比例顯示的比率。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1429
日本daiei針織物測(cè)厚儀FS-60DS 可以安裝多種類型的壓腳和負(fù)載重量，以滿足各種標(biāo)準(zhǔn)，其中測(cè)量的壓力和壓腳直徑因測(cè)量對(duì)象而異。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1402
日本daiei紡織品測(cè)厚儀FS-60DS CR-10A型主要適用于一般機(jī)織物和地板覆蓋物，F(xiàn)S-60DS型適用于毛織物和針織物。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1390
