紅外線加熱型TDS的特點

發(fā)布日期：2022-03-11      瀏覽次數(shù)：1507

紅外線加熱型TDS的特點




紅外線加熱式升溫解吸分析儀TDS1200Ⅱ是用質(zhì)譜儀在超高真空中對樣品進行程序化溫度時，實時觀察解吸分子的分析儀。

即使是水、氫氣、氧氣和二氧化碳等具有高背景的成分，也可以從極少量中檢測到，因為它們是在真空中測量的。

 

可以識別和量化從樣品中解吸的分子的化學種類。此外，還可以獲得解吸氣體的吸附/結(jié)合狀態(tài)、擴散過程等信息。

非常適合測量薄膜樣品和容易被紅外線加熱的薄膜樣品。新的 TDS1200Ⅱ 是傳統(tǒng) TDS1200 系統(tǒng)的更新，并使用觸摸面板作為界面。符合 CE 標志使用標準。



配備負載鎖定室

負載鎖定室對于高測量效率（高通量）和高靈敏度是不可少的。我們的負載鎖定室和樣品轉(zhuǎn)移機制只允許將樣品快速引入超高真空分析室。

如果沒有負載鎖定室，每次更換樣品時分析室都必須對大氣開放。一旦打開到大氣中，大量的大氣成分（尤其是水分）被吸附在分析室中，需要很長時間才能充分排出。





紅外線加熱方式

在熱解吸分析中，重要的是在加熱樣品時分析室和分析室內(nèi)的組件不被加熱。對于具有加熱腔室的結(jié)構(gòu)的TDS，很難區(qū)分從樣品中釋放的氣體和從腔室中釋放的氣體。

TDS1200Ⅱ通過石英棒導入的紅外線直接加熱樣品，即使在高溫區(qū)域也可將背景水平的上升降至低，可以進行高靈敏度測量。

 



四極桿質(zhì)譜儀 (QMS) 的放置

QMS 電離室位于樣品正上方，用于靈敏檢測解吸氣體。通過將其設置在正上方，從樣品中解吸出來的氣體可以直接到達QMS電離室，因此可以以高靈敏度檢測高氣相沉積的金屬和大分子量的有機分子。

 



解吸氣體的量化

數(shù)據(jù)處理程序可以量化解吸的氣體。有必要定期校準質(zhì)譜儀的靈敏度以量化解吸氣體。

使用標準漏孔進行靈敏度校準需要與氣體類型相同數(shù)量的昂貴標準漏孔，并且校準工作非常耗時。此外，在使用標準泄漏有毒氣體時，安全和健康管理變得更加嚴格。

當前的量化程序可以比標準泄漏校準方法更快、更容易、更安全地量化解吸氣體。只需定期測量我們的 NIST 可追溯氫標準樣品，即可獲得高度準確的結(jié)果。經(jīng)證實，我公司開發(fā)的靈敏度校正方法即使在氫氣以外的氣體中也能校正靈敏度，與基于AIST（AIST）國標標準漏孔校準的定量結(jié)果吻合較好。 .