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反射率檢測(cè)儀TSS-5X-3的運(yùn)用分析
透射/反射光譜是材料本身的一項(xiàng)重要光學(xué)特性，在現(xiàn)今工業(yè)蓬勃發(fā)展的背景下，對(duì)材料本身特性的質(zhì)量控制越來越嚴(yán)格，從而利用光譜儀進(jìn)行快速準(zhǔn)確的反射光譜/透射光譜的測(cè)量技術(shù)也開始日漸成熟。
透射/反射光譜儀系統(tǒng)具有測(cè)量快速，準(zhǔn)確，方便集成等優(yōu)點(diǎn)，目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用到實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)、產(chǎn)品在線測(cè)試等應(yīng)用。目前的主要應(yīng)用在：
高分子材料反射/透射測(cè)試
建筑玻璃 反射/透射測(cè)試
在線 反射/透射測(cè)試
光伏壓花玻璃 透射測(cè)試
干涉濾光片 透射測(cè)試
薄膜樣品 反射/透射測(cè)試
各種晶體、塑料、紡織品等反射測(cè)試
平板、LCD、背光板、手機(jī)/平板油墨孔等透射測(cè)量
光譜反射測(cè)量的基本原理是利用光纖將光源輸送到物體的表面，再將材料的光譜反射數(shù)據(jù)傳到光纖光譜儀上，由軟件將其顯示，并對(duì)其進(jìn)行分析，從而可以對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行鑒定。在測(cè)量時(shí)，將一面與基準(zhǔn)光路呈一定角度的標(biāo)準(zhǔn)反射器置于測(cè)量光路上，并以其反射光譜為參照。當(dāng)暗光譜和參考光譜都收集完畢后，可以將被測(cè)量的樣品替換為標(biāo)準(zhǔn)的反射板，進(jìn)行后續(xù)實(shí)驗(yàn)的測(cè)試。
使用發(fā)射率計(jì)TSS-5X-3，您可以輕松測(cè)量樣品在室溫下的發(fā)射率。發(fā)射率值以數(shù)字方式顯示，方便查看，操作簡(jiǎn)單。
TSS-5X-3 可讓您輕松測(cè)量室溫下的發(fā)射率。
樣品的發(fā)射率以數(shù)字方式顯示，方便查看，操作方便。
它被應(yīng)用于從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線的廣泛領(lǐng)域，包括空間、半導(dǎo)體和核電。
通過了解發(fā)射率，您可以提高加熱設(shè)備的輻射效率，設(shè)計(jì)強(qiáng)調(diào)散熱和隔熱的材料，還可以用于節(jié)省能源。
TSS-5X-3使用兩種類型的參考件（發(fā)射率0.06和0.97），其參考發(fā)射率是預(yù)先已知的，并且可以在室溫下輕松測(cè)量，無需加熱樣品。
它被應(yīng)用于從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線的廣泛領(lǐng)域，包括空間、半導(dǎo)體和核電。
紅外線被樣品反射，一部分紅外線通過半球形黑體爐頂部的小孔進(jìn)入。
檢測(cè)元件以恒定速率檢測(cè)該能量。
| 模型 | TSS-5X-3 |
|---|---|
| 測(cè)量方法 | 使用紅外檢測(cè)的反射能量測(cè)量方法 |
| 測(cè)量波長 | 2～22μm |
| 測(cè)量范圍 | 發(fā)射率：0.00~1.00 |
| 準(zhǔn)確度等級(jí) | 滿量程的 ±1% |
| 測(cè)量面積 | Φ15mm |
| 測(cè)量距離 | 12mm（檢測(cè)頭柱固定） |
| 樣品溫度 | 10-40℃（室溫） |
| 測(cè)量值顯示 | LED數(shù)字顯示（顯示至小數(shù)點(diǎn)后第二位） |
| 輸出 | 0-0.1V、0-1V、滿量程 |
| 工作溫度/濕度范圍 | 10~45℃/35~85℃（無凝結(jié)） |
| 電源/電力 | AC100-240V，50/60Hz，30W *不含電源線。請(qǐng)選擇適合您所在位置的電源線。 |
| 尺寸/質(zhì)量 | 檢測(cè)頭：Φ51 x 137Lmm、0.6kg（含3000Lmm機(jī)器人電纜） 測(cè)量單元：156H x 306W x 230Dmm（不含橡膠腳柄等）、5.0kg |
| 配件 | 發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)件存放盒：84H x 238W x 185Dmm，1.1kg 發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)件：0.06（鏡面）、0.97（黑體），各存放 1 個(gè) |
